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產(chǎn)品資料
產(chǎn)品[

TOP-2000 冠層多譜輻射計

]資料
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產(chǎn)品名稱: TOP-2000 冠層多譜輻射計
產(chǎn)品型號: TOP-2000
產(chǎn)品廠商: 托普儀器
產(chǎn)品文檔: 無相關文檔
產(chǎn)品價格: 0.00 元



簡單介紹

TOP-2000 冠層多譜輻射計可廣泛應用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研。儀器具有TFT彩屏顯示接口、GPRS無線通訊接口、GPS定位接口等,可根據(jù)用戶須求升級硬件。實現(xiàn)光譜數(shù)據(jù)遠程傳輸和GPS定位導航功能。


TOP-2000 冠層多譜輻射計 的詳細介紹

TOP-2000 冠層多譜輻射計
冠層多譜輻射計操作原理
任何物質(zhì)都具有發(fā)射、吸收及反射電磁波的特性,這是光譜信息檢測的基本原理。通過測量每一波長輻射的吸收、發(fā)送或反射,物質(zhì)的特性就能被確定。在實際應用時,僅需要選擇某些特定波段來識別被選定物質(zhì)的特性。利用窄帶過濾器來選擇可見光和近紅外(NIR) 區(qū)電磁波譜的某些波段。此波段區(qū)域可以用于量化各種脅迫導致的植物冠層發(fā)射率差異。750-900納米的近紅外波段對探測和評估植物葉片病害的嚴重性十分有用。近紅外區(qū)的長波波段可以用于估計植物的生物化學成份。
采用可見/近紅外光反射光譜技術和多通道光譜信息掃描技術,可快速測定植被表面參數(shù)、植物冠層信息、植物養(yǎng)分信息、土壤養(yǎng)分信息、環(huán)境參數(shù)、植物病蟲害程度等。
儀器為8通道通用光譜檢測分析儀,*大可支持16通道不同波段的通用光譜信息采集儀器,用戶可以根據(jù)實際須要定制不同波段的濾光片進行光譜檢測。
儀器自帶8個波段的濾光片,主要中心波段為:550nm,600nm,650nm,730nm, 940nm,1100nm,1250nm,1550nm.
內(nèi)置傳感器自動校正模塊。
 
冠層多譜輻射計應用范圍
*描述:
-植物正常生長
-植物冠層顔色
-植物生長環(huán)境
 
*評估:
-作物生物量
-生物化學含量
-作物產(chǎn)量組成
-作物質(zhì)量因子
-葉面積指數(shù)
-由于病蟲害、空氣污染、養(yǎng)分不足和化學植物**等造成的作物產(chǎn)量損失與品質(zhì)降低
 
*植物生長調(diào)節(jié)劑的評估
*客觀有效地對各種葉片病害的評級
*監(jiān)測應用除草劑的效果
*用于土壤改善和肥力的研究
*葉面施肥的研究
*灌溉日程安排的研究
*干旱對植物生長和產(chǎn)量的影響
*不同基因型的特性
*試驗地變異的評估
 
冠層多譜輻射計特點
輻射計方向360度可調(diào),可以自動校準太陽方向角對測量造成的影響
儀器高矮可調(diào)節(jié)
能夠在少云的情況下使用
8個波段與Landsat衛(wèi)星熱波譜圖的前8條波段相似
重量輕、便于攜帶
可以用于無人值守的操作
大屏幕中文液晶顯示
手持機可存儲,通過按鍵存儲
帶計算機接口,可以將數(shù)據(jù)導入計算機,以便分析之用
 
冠層多譜輻射計技術指標
現(xiàn)在已定標的有:
A歸一化植被指數(shù)NDVI、SA-NDVI,WDR-NDVI,RVI
B、光化學反射系數(shù)PRI
C、葉面積指數(shù)(LAI
D、冠層林隙比例(GAP SIZE
E、植物冠層吸收的光合有效輻射分量(FPAR)
波段:8
中心波長:  550nm,600nm,650nm,730nm, 940nm,1100nm,1250nm,1550nm 
操作范圍:0+50,0100%相對濕度不凝結,<20%的相對濕度下貯藏
反射率區(qū)間:0100%
分辨率:0.06%
**度:+/-4%
檢波器:發(fā)光二極管
尺寸:100×100×80mm
存儲數(shù)據(jù):1000
響應時間:2
重量:1kg
 
冠層多譜輻射計配置
該系統(tǒng)包括輻射計、數(shù)據(jù)記錄器(手持表)、伸長桿 (可伸長到3.5)、 AC適配器及充電器、軟件光盤、數(shù)據(jù)連接線、使用手冊
 
冠層多譜輻射計操作方法
在田間,通過支持架(桿)將輻射計保持在作物冠層上面的水平位置。田間的觀測直徑是反射計高于冠層的高度的一半。系統(tǒng)內(nèi)置的數(shù)據(jù)獲取程序便于對電壓數(shù)字化和記錄每一選擇波長的反射百分數(shù)。該程序同時允許對多個樣本取平均值。各種輔助數(shù)據(jù),如時間、入射輻射水平和輻射計內(nèi)部的溫度,均可在每次掃描時記錄下來。
通過手動開關或按手持機觸發(fā)的一次掃描只需約2秒鐘。各種操作過程均有屏幕提示。
輻射計設計允許幾乎同時輸入代表入射輻射和反射輻射的電壓值。這一特性允許在非理想的太陽角度和光照條件下**測量作物冠層的反射率。在多云條件下,利用系統(tǒng)校準程序進行環(huán)境校準,仍然可以獲得有用的反射率觀測值。
 
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